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400-7075-800簡要描述:電子產品高溫老化房或高溫老化試驗房,是針對所有工業(yè)產品包括電子產品、電源電池、電腦、通訊、光電、LED、主板機、監(jiān)視器、掃描器、生物制藥、化工仿真出一種高溫惡劣環(huán)境測試的大型試驗設備,是提高產品性能穩(wěn)定性、可靠性的重要檢測設備、是各生產企業(yè)實驗室及品質部提高產品質量和競爭性的重要手段,該老化房適合范圍非常廣泛,而且溫度范圍及尺寸大小均可定制。
電子產品高溫老化房具備以下的優(yōu)勢特點:
1、溫度控制準確,精度高。由于采用了風道系統(tǒng)設計及電控系統(tǒng),能保持整個老化房的房間內溫度均勻性佳,穩(wěn)定性好,大大高于其它品牌相似類設備。
2、系統(tǒng)保護功能齊全,能確保安全長期穩(wěn)定運行。
3、老化房|高溫老化房|高溫老化試驗房設定的使用溫度范圍廣,連續(xù)可調。在常溫~85℃范圍內可任意設定。若客戶有特殊要求,柳沁科技還可設計定制出更高溫度的老化房。
電子產品高溫老化房的技術參數(shù):
1、內容積:6M3、8M3、10M3、12M3、15M3、18M3、20M3、30M3、50M3、(除了這些容積,更大或者更小的均可來電定制)。
2、內室尺寸與外型尺寸:以客戶的測試件所需尺寸或場地等需求定制合理的內外尺寸,建議雙方電談或者面談了解清楚實際需求再確定具體所需尺寸,能有效節(jié)約成本及滿足實際需要。
3、溫度范圍:RT~85 ℃或更高請致電說明。
4、(單/雙)開門選擇,如雙:W(800+800)mm×H1900mmW;(可依客戶要求選擇或定制)。
5、滿足標準:GB/T 5170.2-2008 溫度試驗設備、GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗方法Bb、GJB150.3-1986 高溫試驗、GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法、GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗。
6、工作噪音:A聲級≤70dB(A) (在環(huán)溫25℃,回聲少的隔音室內測得;采用A計權,測試8個點的平均值;各測試點水平離噪音源1米、高度離地面1米)。
7、溫度波動:溫度:≤±0.5℃ (指控制器設定值和控制器實測值之差)。
8、溫度均勻度:溫度:≤2.0℃(均勻度為每次空載測試中實測高溫度和低溫度之差的算術平均值)。
9、溫度升溫時間:約40min。
10、電源:AC380V,三相四線+保護地線。
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