可程式恒定溫濕度測試箱特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、 電池、手機、電腦等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗。

可程式恒定溫濕度測試箱在一定空間內(nèi)形成特定溫濕度的設(shè)備，適用于電子產(chǎn)品及電子零部件、材料、纖維、制藥、電池等現(xiàn)代工業(yè)產(chǎn)品耐久性和可靠性測試的設(shè)備。在設(shè)定時間內(nèi)模擬形成各種嚴酷氣候條件，可預(yù)測正常條件下的耐久性試驗。在加溫、冷卻、除濕、加濕調(diào)和控制下形成高精度的溫濕度環(huán)境。

符合標準：

　　 GB/T5170.2-2008溫度試驗設(shè)備

　　 GB/2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007)低溫試驗方法AB。

　　 GB/2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007)高溫試驗方法BA。

　　 GB/T5170.5-2008濕熱試驗設(shè)備。

　　 GJBl50．4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法。

　　 GB2423．3-93(IEC68-2-3)試驗Ca：恒定濕熱試驗方法。

　　 GB2423．4-93(IEC68-2—30)試驗Db：交變濕熱試驗方法。

型號:LQ-TH-80/LQ-TH-150/LQ-TH-225/LQ-TH-408/LQ-TH-800/LQ-TH-1000。

內(nèi)箱尺寸（W×H×D）cm:80L:40×50×40； 150L:50×60×50； 225L:50×75×60；408L:60×85×80；800L:100×100×80；1000L:100×100×100；備注更多非標尺寸可來電柳沁非標定制。

溫度范圍可選:A：0℃～150℃/B：-20℃～150℃/；C：-40℃～150℃/；D：-70℃～150℃/（可任意調(diào)節(jié)）。

濕度范圍:20%~98%RH（行業(yè)標準型）。

升降溫速率：

RT<----->150℃ 約35分鐘（非線性空載，約3.0℃/分鐘）。

RT<----->-20℃ 約45分鐘（非線性空載，約1.0℃/分鐘）。

解析精度： 0.01℃。       

控制精度：≤±0.5℃。

均勻度：≦2.0℃。

電源功率：AC1￠3W 220V 50/60HZ或AC3￠5W380V 50/60HZ，功率電流視型號規(guī)格而定。